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产品介绍
PSZ-Ⅳ型气压扫描塞曼效应仪 通过改变FP标准具镜间的气压，实现干涉光谱的扫描。FP标准具精度高，平面度优于λ/100，保证高分辨率。 可分别观察FP标准具等倾干涉和等厚干涉。以等厚干涉作为标准具平行度和平面度的灵敏指示。从而更好地调整和发挥仪器性能。
技术参数：
平面度：λ/100精细度：F≥35 自由光谱范围(FSR):75GHz(可定制) 通光孔径:Φ25mm 气压扫描范围：1～3（atm）
效果图
